UJI RESOLUSI SPASIAL DAN SLICE THICKNESS PADA CT SCAN 128 DAN 16 SLICE DENGAN MENGGUNAKAN PHANTOM QUART DVT-AP - Baghaskoro Otniel Kathon; Puji Hartoyo; Samsun Samsun (JURNAL PEMBELAJARAN FISIKA, 2022)
CT-Scan adalah salah satu modalitas untuk diagnosis utama, kualitas citra dari CT-Scan sangat berpengaruh terhadap diagnosis. Untuk menguji kualitas citra CT-Scan diperlukan suatu alat ukur berupa phantom. Penelitian ini bertujuan untuk menganalisa penggunaan phantom Quart DVT-AP terhadap nilai resolusi spasial dan slice thickness pada CT-Scan 128 Slice dan 16 Slice. Uji resolusi spasial dan slice thickness dilakukan dengan menggunakan perhitungan dari citra digital. Phantom dipindai dengan melakukan variasi nilai slice thickness (2,5 , 5 , dan 10 mm). Penentuan nilai resolusi spasial dan slice thickness diperoleh dari nilai Edge Spread Function(ESF) menggunakan software bawaan phantom yaitu Quart CT-TEC dan juga Matlab. Kemudian digunakan juga phantom Gammex ACR untuk membandingkan nilai resolusi spasial dan slice thickness yang didapat menggunakan Quart DVT-AP. Hasil penelitian ini menunjukan bahwa phantom Quart DVT-AP mampu mengukur slice thickness pada CT-Scan 128 dan 16 slice dan sanggup mengukur sampai pasangan garis ke 6 yaitu 0,9 Lp/mm, lebih tinggi jika dibandingkan dengan hasil yang didapat menggunakan phantom Gammex ACR. Variasi ketebalan slice tidak mempengaruhi hasil pengukuran resolusi spasial dan slice thickness dan hasil perhitungan dari software CTTEC menunjukkan hasil yang sama baiknya dengan Matlab. Nilai resolusi spasial dan slice thickness telah dibandingkan dengan nilai lolos uji sesuai rekomendasi BAPETEN, sehingga perangkat CT-Scan masih layak untuk digunakan. Kata Kunci : Edge Spread Function(ESF), Phantom Quart DVT-AP, Resolusi Spasial, Slice Thickness, Software CTTEC