Penerapan Metode Simple Moving Average dalam Memperhalus Difraktogram XRD Sampel Nikel - Sapto Raharjo; Lina Lestari; Nurul Hidayahtullah; Muh. Yaqub Rijal; Jirman (Jurnal Aplikasi Fisika, 2025)
Nikel, logam berwarna putih keperakan yang dikenal karena ketahanan korosi yang sangat baik dan titik lebur yang tinggi, memiliki peran penting dalam industri modern. Namun, ketika ditemukan dalam bentuk bijih nikel, keberadaan unsur besi menimbulkan kompleksitas tambahan pada pola XRD, menyebabkan puncak-puncak yang tumpang tindih dan perubahan pada struktur kisi. Untuk mengatasi tantangan ini, penelitian ini menggunakan metode Simple Moving Average (SMA) untuk memperhalus difraktogram XRD dari sampel nikel, yang secara efektif mengurangi noise dan meningkatkan kejernihan data untuk analisis yang lebih akurat. Hasil perhitungan menunjukkan bahwa sampel SIL-Ni197 memperoleh nilai MAPE sebesar 1,66%, RRMSE sebesar 2,65%, dan R² sebesar 0,859. Hasil ini menunjukkan bahwa data yang telah dihaluskan tetap mempertahankan sebagian besar variabilitas aslinya, menunjukkan pengurangan noise yang efektif sambil tetap menjaga tren penting. Dengan demikian, metode SMA terbukti menjadi teknik yang sangat baik untuk prapemrosesan data XRD, membantu dalam interpretasi sinyal yang lebih jelas. Untuk dataset dengan perubahan yang lebih tiba-tiba, teknik adaptif seperti metode exponential moving average (EMA) dapat memberikan peningkatan lebih lanjut