Prediksi Cacat Perangkat Lunak Dengan Optimasi Naive Bayes Menggunakan Pemilihan Fitur Gain Ratio - Muhammad Sonhaji Akbar; Siti Rochimah (Bagian Perpustakaan dan Publikasi Ilmiah - Institut Teknologi dan Bisnis (ITB) STIKOM Bali, 2016)
Dalam prediksi cacat perangkat lunak, terjadinya kesalahan prediksi cacat perangkat lunak merupakan hal yang sangat fatal karena data yang salah prediksi dapat menimbulkan pengaruh terhadap perangkat lunak itu sendiri. Kurang optimalnya metode prediksi yang digunakan. Masih terdapat kesalahan dalam memprediksi cacat perangkat lunak. Dalam metode Naive Bayes juga masih terdapat kekurangan ketika terjadi kesalahan klasifikasi. Kesalahan klasifikasi ini dapat memperlambat proses prediksi cacat perangkat lunak. Dibutuhkan metode yang dapat mengatasi kesalahan klasifikasi ini. Dalam penelitian ini disusulkan optimasi metode Naive Bayes menggunakan Gain Ratio. Pemilihan fitur menggunakan Gain Ratio pada Naïve Bayes dapat mengurangi dampak kegagalan prediksi. Penggunaan Gain Ratio dapat meningkatkan performa prediksi. Penghitungan Gain Ratio dapat dirumuskan yaitu dari setiap atribut Gain Ratio dikali jumlah data n kemudian dibagi dengan rata-rata Gain Ratio semua atribut. Atribut dari Gain Ratio sendiri merupakan hasil bagi dari Mutual Information dan Entropy. Mutual Information (MI) merupakan nilai ukur yang menyatakan keterikatan atau ketergantungan antara dua variabel atau lebih. Selain MI, Entropy digunakan sebagai pembagi dari MI yang digunakan untuk menentukan atribut mana yang terbaik atau optimal. Maka dari itu penghitungan Gain Ratio adalah hasil dari penghitungan Mutual Information dibagi dengan hasil penghitungan Entropy Penghitungan Gain Ratio. Hasil penelitian menunjukkan akurasi sebesar 87,55% untuk metode usulan dan 85,34% untuk metode Naïve Bayes biasa.