PENGGUNAAN X-RAY DIFRACTION DAN SOFTWARE PCPDFWIN UNTUK KARAKTERISASI SENYAWA DEPOSIT HASIL PELAPISAN ELECTOLESS NICKEL PHOSPHORUS - Widyastuti, Ike (University of Merdeka Malang, 2007)
Salah satu karakterisasi hasil pelapisan Electoless Nickel Phosphorus dilakukan menggunakan X-RayDiffraction (XRD) untuk mengetahui deposit yang terjadi di permukaan logam substrat.Hasil proses Electoless Nickel Phosphorus ini adalah deposit unsur Ni dan P tanpa terjadi difusi sehinggakekerasan yang rendah. Untuk itu perlu dilakukan proses perlakuan panas sehingga difusi dapat terjadiantara Ni dan P yang menghasilkan fasa atau senyawa Ni3P yang merupakan fasa keramik dan bersifatkeras berdasarkan analisa hasil pengujian XRD menggunakan alat bantu software PCPDFWIN.