Pengaruh Tegangan Uji Terhadap Nilai Resistansi Dari Resistor Standar Dalam Order Giga Ohm - Lukluk Khairiyati; Muhammad Azzumar; Nibras Fitrah Yayienda (Jurnal Teknologi, Fakultas Teknologi Industri, Institut Sains & Teknologi AKPRIND Yogyakarta, 2021)
Dalam rangka mendukung sistem pengukuran arus rendah untuk rentang nA diperlukan karateristik resistor standar tinggi dalam untuk nominal 1 GΩ, 10 GΩ dan 100 GΩ dengan variasi tegangan uji yang telah dilakukan pengukurnya. Tujuannya adalah untuk mengetahui pengaruh tegangan uji terhadap nilai resistansi dari resistor standar 1 GΩ, 10 GΩ dan 100 GΩ. Selain itu, hal tersebut dapat bermanfaat juga untuk mengetahui koreksi nilai resistansi saat tegangan uji yang disuplai tidak sesuai dengan tegangan kerja optimumnya. Pengukuran dilakukan dengan menurunkan nilai resistor standar 1 GΩ, 10 GΩ dan 100 GΩ dengan menggunakan metode langsung dan Teraohmmeter sebagai standar acuan yang mimiliki kemampuan tegangan ujinya 1V sampai 1000 V. Perubahan nilai resistansi terhadap perubahan arus uji memberikan fenomena bahwa nilai resistansi berubah secara kuadratik. Persamaan kuadratik yang diperoleh adalah y = 4E-10x2 - 5E-07x + 1,0003 MΩ, y = 6E-09x2 - 8E-06x + 10,007 MΩ dan y = 3E-07x2 - 0,0005x + 100,11 dengan ketidakpastian baku 0,0045 ppm, 1,2 ppm dan 449 ppm.