SISTEM KONTROL PADA OTOMIC FORCE MICROSCOPY DAN NANO POSITIONING - Rijanto, Estiko (Badan Penelitian dan Pengembangan Industri, 2009)
Perkembangan ilmu pengetahuan dan teknologi instru8mentasi Iscaning Probe Microsocopy (SPM) telah memungkinkanya berfungsi sebagai mata dan jari untuk melihat dan mengkontrol materi pada ukuran nano meter. Hal ini memberi dampak yang dramatis pada teknologi nano (nanotechnology) di berbagai bidang, biokimia, farmasi, elektro-kimia, tribologi, material, dan fisika. Penerapan tekni kontrel sangat penting pada instrumentasi teknologi nano karena tampa kontroler yang memadai instrumen ini tidak dapat berfungsi dengan baik. Tujuan makalah ini adalah untuk menjelaskan perancangan konsep sistem kontrol pada intrumentasi teknologi nanokhususnya Atomic force Microscopy (AFM) dan nano positioning. Kontroler untuk thermal driven Noncontact AFM pada prinsipnya meregulasi frekuensi resonan dengan mengontrol jarak memakai kontroler umpan balik, sedangkan untuk Transient force AFM pada prinsipnya mengunakan kalman filter untuk meningkatkan kecepatan dan menjaga mutu citra. Hasil eksperimen sistem nanopositioning untuk AFM menunjukan bahwa pengunaan metoda kontrol kokoh H_infinty memberikan hasil scanningÂ yang lebih baik dibandingkan dengan kontrol klasik. Hasil eksperimen untuk ultra-high desinty electronic data dtorage menunjukan kontroler mengunakan umpan balik dan umpan maju mampu merealisasikan da storage dengan kapasitas 1 tera bit per inci persegi dengan kecepatan baca/tulis 12.5 KB per detik.