Rancang Bangun Pelacak Kurva Transistor Berbasis STM32 dan Labview - Leonardo Kamajaya; Ari Murtono; Achmad Arif Bryantono (Universitas Muhammadiyah Surabaya, 2023)
Kurva karakteristik transistor memiliki informasi tentang hubungan antara tegangan collector-emitter dan arus collector terhadap arus basis, data ini dapat digunakan untuk menentukan spesifikasi penguatan transistor, area saturasi, dan area cutoff. Pengukuran kurva karakteristik transistor secara manual pada laboratorium membutuhkan waktu yang relatif lama dikarenakan dikarenakan analis harus mengatur beberapa instrumen secara bersamaan sehingga dibutuhkan sebuah instrumen khusus untuk melakukan pengukuran tersebut secara otomatis dengan parameter uji yang dapat diatur dan visualisasi kurva karakteristik hasil pengujian. Pada penelitian ini akan membahas tentang bagaimana cara membuat curve tracer yang terdiri dari SMU (Source Measure Unit) dengan mikrokontroler dengan arsitektur ARM agar dapat melakukan kontrol keluaran dan akuisi data dengan cepat. Antarmuka pada curve tracer yang dibuat menggunakan aplikasi komputer LabVIEW yang digunakan untuk mengatur batas-batas parameter uji serta menampilkan visualisasi kurva hasil pengujian curve tracer. Dari source measure unit yang telah dibuat, didapatkan hasil performa akurasi keluaran tegangan sebesar 0.01% dan keluaran arus sebesar 0.35%. Sedangkan akurasi kurva karakteristik transistor dari curve tracer yang dibandingkan dengan curve tracer menggunakan osiloskop didapatkan hasil sebesar 1.54%.