Karakterisasi Inklusi Terak Pada Pengelasan Pipa SA 106 Grade B Menggunakan Mikroskop Elektron Pemindai - Fitrah, Muhammad Aqdar; Mardin; Balfas, Muhammad; Utami, Hermin Hardyanti; Thahir, Muhammad Taufiq; Hafid, Haeruddin (Fakultas Teknologi Industri - Universitas Muslim Indonesia, 2024)
Pentingnya peran Mikroskop Elektron Pemindaian (SEM) dalam menganalisis pengelasan pipa, khususnya dalam konteks penggunaan material SA 106 Grade B seamless untuk aplikasi industri dengan suhu tinggi, sangatlah signifikan. Pengelasan pipa memiliki peran vital dalam berbagai industri yang dihadapkan pada lingkungan ekstrem. Faktor utama yang mempengaruhi integritas dan kinerja sistem dalam kondisi operasi yang ekstrim adalah kualitas antarmuka las dan struktur mikro dari material tersebut. Artikel ini menguraikan prinsip dasar operasi SEM dan penggunaannya dalam mengobservasi fenomena terak (slag) pada antarmuka las pipa yang terbuat dari material SA 106 Grade B. Penjelasan difokuskan pada proses SEM yang menggunakan aliran elektron untuk memindai permukaan sampel dan mengungkap informasi tentang struktur mikroskopis melalui interaksi antara elektron dan material. Pengamatan SEM menghasilkan pemahaman mendalam tentang karakteristik terak yang muncul selama proses pengelasan pipa, termasuk pembentukan fase silikat dan oksida, dengan keberadaan oksida besi menunjukkan bahwa terak tidak sepenuhnya terhapus. Pemindaian pada perbesaran 24x memberikan gambaran awal tentang distribusi ukuran, sedangkan pada perbesaran 150x menyoroti keberadaan butiran pada permukaan inklusi terak yang menumpuk seperti buih. Identifikasi butiran ini menjadi fokus penting karena dapat memengaruhi integritas struktural dan kualitas antarmuka las pipa.