NAIVE BAYES CLASSIFICATION UNTUK PREDIKSI CACAT PERANGKAT LUNAK - Hari Agus Prastyo, Edwin; Suhartono, Suhartono; Faisal, M; Yaqin, Muhammad Ainul; Firdaus, Reza Augusta Jannatul (STKIP PGRI Tulungagung, 2024)
Cacat perangkat lunak atau bug merupakan bagian yang tak terhindarkan dari pengembangan perangkat lunak dan dapat memiliki dampak signifikan terhadap keandalan dan kinerja aplikasi perangkat lunak. Penelitian ini bertujuan untuk meningkatkan prediksi dan pemantauan cacat perangkat lunak dalam konteks pengembangan perangkat lunak. Kestabilan sistem dan pencegahan cacat perangkat lunak menjadi hal yang sangat krusial dalam industri perangkat lunak. Untuk mencapai tujuan tersebut, berbagai tindakan proaktif seperti pengujian perangkat lunak yang ketat, pemeliharaan rutin, dan pemantauan sistem secara berkelanjutan perlu diterapkan. Masalah utama yang menjadi fokus dalam penelitian ini adalah kurangnya prediksi yang efisien terkait dengan cacat perangkat lunak selama proses pengembangan. Dalam penelitian ini, metode Naive Bayes Classification dimanfaatkan untuk mengatasi tantangan tersebut. Hasil uji coba yang dilakukan terhadap seluruh dataset menunjukkan bahwa metode Naive Bayes mampu menghasilkan klasifikasi dengan tingkat akurasi yang sangat tinggi, mencapai nilai 98%. Hasil ini mengindikasikan bahwa metode ini berpotensi menjadi alat yang sangat efektif dalam memprediksi cacat perangkat lunak dan mencegahnya selama proses pengembangan perangkat lunak. Selain itu, melalui analisis regresi linear, model ini memiliki nilai