PENENTUAN JUMLAH CLUSTER OPTIMUM PADA PENGELOMPOKAN PROVINSI DI INDONESIA BERDASARKAN INDIKATOR PENDIDIKAN TINGKAT SMA - Rahmadanti, Putri; Martha, Shantika; Satyahadewi, Neva (FMIPA Universitas Tanjungpura, 2025)
Pendidikan merupakan aspek penting terkait dengan sumber daya manusia dan tentunya memiliki peran penting dalam upaya meningkatkan pembangunan nasional. Pada dasarnya pemerataan pendidikan sangat krusial untuk meningkatkan pendidikan di Indonesia. Indonesia yang terdiri dari banyak provinsi dengan beragam kondisi menjadikan perlu dilakukan pengelompokan terhadap pendidikan pada tiap daerah. Analisis cluster ialah teknik analisis statistik multivariat yang melakukan pengelompokan berdasarkan atas kesamaan karakteristik antar tiap objeknya. Tujuan penelitian ini adalah penentuan jumlah cluster optimum dengan metode Silhouette Coefficient untuk mengelompokkan provinsi di Indonesia berdasarkan indikator pendidikan tingkat SMA/sederajat. Data indikator pendidikan tingkat SMA/sederajat yang terdiri dari 11 variabel dari 34 provinsi di Indonesia digunakan dalam penelitian ini. Tahapan penelitian ini meliputi pengelompokan dengan menggunakan metode Ward dan dilanjutkan dengan proses penentuan jumlah cluster optimum dengan metode Silhouette Coefficient. Berdasarkan analisis yang telah dilakukan dengan mengelompokkan tingkat pendidikan di Indonesia, diperoleh cluster optimum berdasarkan indikator pendidikan tingkat SMA/sederajat, yaitu berjumlah 3 cluster dengan nilai Silhouette Coefficient yaitu bernilai 0,248. Cluster ke-1 merupakan cluster dengan tingkat pendidikan tinggi terdiri dari 8 provinsi yang didominasi dengan provinsi yang berada di Pulau Jawa. Kemudian cluster ke-2 sebagai cluster dengan tingkat pendidikan sedang terdiri dari 25 provinsi yang merupakan cluster terbesar yang mewakili sebagian besar wilayah di Indonesia. Serta cluster ke-3 sebagai cluster dengan tingkat pendidikan rendah hanya terdiri dari Provinsi Papua yang menunjukkan kesenjangan pendidikan yang signifikan. Kata Kunci : Jarak Euclidean, Metode Ward, Silhouette Coefficient, Z-Score.