FITUR BERBASIS FRAKTAL DARI KOEFISIEN WAVELET UNTUK KLASIFIKASI CITRA DAUN - Ardhon Rakhmadi; Nanik Suciati; Dini Adni Navastara (Department of Informatics, Institut Teknologi Sepuluh Nopember, 2017)
Semakin banyak dan beragamnya jenis tanaman di dunia mengakibatkan semakin sulit untuk mengidentifikasi dan mengklasifikasi tanaman secara manual. Daun merupakan bagian dari tanaman yang sering dipakai untuk identifikasi dan klasifikasi tanaman. Metode klasifikasi daun secara automatis telah banyak dikembangkan oleh para peneliti. Pada penelitian sebelumnya sistem klasifikasi daun otomatis dibangun menggunakan fitur berbasis fraktal yaitu dimensi fraktal dan lacunarity. Sistem klasifikasi daun otomatis berbasis dimensi fraktal dan lacunarity dapat mengklasifikasi daun dengan akurasi tinggi namun memerlukan banyak langkah preprocessing sehingga mengakibatkan komputasi sistem meningkat. Pada penelitian ini diusulkan penggunaan metode praproses dan ekstraksi wavelet pada ekstraksi fitur citra daun. Ekstraksi fitur menggunakan teknik perhitungan statistika sederhana pada koefisien wavelet sehingga komputasi menjadi lebih ringan. Hasil ekstraksi fitur citra daun akan menjadi data masukan untuk sistem klasifikasi Support Vector Machine (SVM). Hasil eksperimen menunjukkan bahwa metode ekstraksi fitur statistik pada dekomposisi wavelet lebih unggul dibandingkan dengan metode ekstraksi fitur berbasis fraktal (dimensi fraktal dan lacunarity) dari penelitian sebelumnya dengan akurasi 96.66% dan waktu komputasi 329.33 detik.