Penelitian ini bertujuan menumbuhkan lapisan tipis Sn(Se0,5S0,5) dengan teknik vakum evaporasi untuk mempelajari karakter lapisan tipis Sn(Se0,5S0,5) dengan karakterisasi struktur kristal, morfologi permukaan, dan komposisi kimia. Preparasi dilakukan pada tekanan ~10-5 mbar dan memvariasi jarak sumber dengan substrat menggunakan spacer. Spacer divariasi sebanyak 3 kali, yaitu 10 cm, 15 cm, dan 25 cm. Sampel dikarakterisasi menggunakan XRD (X-Ray Diffraction) untuk mengetahui struktur kristal, SEM (Scanning Electron Microscopy) untuk mengetahui morfologi permukaan, dan EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) untuk mengetahui komposisi kimia. Hasil menunjukkan ketiga sampel memiliki struktur kristal orthorhombik dengan parameter kisi sampel 1: a=11,347 Å; b=4,074 Å; c=4,371 Å, sampel 2: a=11,431 Å; b=4,088 Å; c=4,355 Å, sampel 3: a=11,301 Å; b=4,067 Å; c=4,293 Å. Permukaan lapisan tipis homogen terdiri atas butiran berukuran ~0,5 µm. Lapisan tipis mengandung unsur Sn, Se, dan S dengan persentase komposisi kimia Sn=51,75 %, Se=23,84 %, S=24,42 % dan perbandingan molaritas Sn:Se:S adalah 1:0,46:0,47.
Copyrights © 2015