<![CDATA[Abstrak Material nanopartikel merupakan merupakan material dengan ukuran partikel berukuran 10-100 nm. Nanopartikel dapat dibuat dengan beberapa metode yang diklasifikasikan menjadi dua jenis pendekatan yaitu dengan cara top down dan bottom up. Karakterisasi nanopartikel dapat dilakukan dengan menggunakan teknik X-Ray diffraction (XRD) dan Scanning Elekctron Microscopy (SEM). XRD sangat berguna untuk mempelajari struktur kristal, komposisi kimia, dan sifat sifat fisika dari nanomaterial. SEM merupakan teknik karakterisasi material yang banyak digunakan untuk melihat morgfologi permukaan dan ukuran butir nanomaterial. Beberapa waktu belakangan perhatian mengenai naopartikel ini telah diarahkan juga pada aplikasi di bidang farmasi khususnya dalam dalam bidang Drug Delivery System Kata kunci: Nanopartikel, X-Ray diffraction, Scanning Elekctron Microscopy Abstract Nanoparticles are defined as material with a particle size in the range of 10-100 nm. Nanomaterial fabrication methods can be classified according to whether their assembly followed either the so called top down and bottom up approach. Characterization of nanoparticles can use X-Ray diffraction (XRD) and Scanning Electron Microscopy (SEM) techniques. XRD are a very useful characterization tool to study the crystallographic structure, chemical composition and physical properties of nanomaterials. SEM is a popular technique for imaging the surfaces of almost any material grain size of nanomaterial. Recently, attention of nanomaterial has been geared towards its pharmaceutical application, especially in the area of drug delivery. Keywords: Nanoparticles, X-Ray diffraction, Scanning Elekctron Microscopy]]>
Copyrights © 2018
