Pembuatan Program Penghitung Parameter Kisi Kristal Suatu Material Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (Xrd) Menggunakan Metode Analitik dan Metode Cohen

Wa Ode Sukmawati A (Universitas Halu Oleo)
Viska Inda Variani (Universitas Halu Oleo)
Fitrah Yaminsih (Universitas Halu Oleo)

Jurnal Aplikasi Fisika
Vol 14, No 1 (2018): JAF, Februari 2018

Penelitian ini bertujuan untuk menghitung parameter kisi kristal (a dan c) suatu material berdasarkan pola difraksi sinar-x (XRD) menggunakan metode Cohen berstruktur kubik, heksagonal, dan tetragonal menggunakan bahasa pemrograman Borland Delphi 7.0. Data diperoleh dari database ICDD-JCPDS (International Center for Diffraction Data - Joint Comitte on Powder Diffraction Standard) dan dari hasil eksperimen dengan panjang gelombang ( ) 1,54056 Å. Hasil perhitungan parameter kisi a dan parameter kisi c metode analitik dan metode Cohen  diperoleh sesuai dan mendekati parameter kisi database rujukan, terbukti dengan kecilnya nilai perbedaan parameter kisi (deltaE) perhitungan  yang diperoleh. deltaE Data JCPDS dengan rentang 0,0–0,3 dan deltaE data hasil eksperimen dengan rentang 0,37-1,19. Hal ini menunjukan bahwa metode Cohen dapat menghitung parameter kisi kristal dengan hasil yang baik.