JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya)
Vol 5, No 2 (2009)

Penentukan Indeks Bias Lapisan Tipis dengan menggunakan Ellipsometer

Sidopekso, Satwiko (Universitas Negeri Jakarta)

Article Info

Publish Date
10 Jun 2009

Abstract

Penelitian amorphous silicon film tipis yang pelapisnya dilakukan di atas bahan semi transparan dan non transparan. Dengan menggunakan Ellipsometer menghasilkan pengukuran yang sangat akurat, dan dengan menggunakan komputer program hasil percobaan diolah serta dibandingkan antara pengukuran dilakukan sebelumnya.

Copyrights © 2009




Citation Download
RIS
EndNote, Reference Manager, ProCite
BibTex
Latex, Jabref
Full PDF
74.77 KB
Original Source
Download Original
Google Scholar
Check in Google Scholar
Journal Info
JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya)
Website

Abbrev

jfa

Publisher

Institut Teknologi Sepuluh Nopember Surabaya

Subject

Physics

Description

JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Abbreviation: J.Fis. dan Apl.) hanya menerbitkan artikel penelitian asli serta mengulas artikel tentang topik seputar bidang fisika (fisika teori, material, optik, instrumentasi, geofisika) dan aplikasinya. Naskah yang dikirimkan ke JFA belum pernah diterbitkan ...