Analisis Morfologi Permukaan Lapisan Klorofil dengan Atomic Force Microscopy

De Vega, Lidya Nur (Jurusan Fisika Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam (FMIPA) Universitas Sebelas Maret Jl. Ir. Sutami 36A Kentingan, Surakarta 57126)

JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya)
Vol 11, No 3 (2015)

Karakteristik morfologi permukaan lapisan klorofil hasil AFM (Atomic Force Microscopy) telah dianalisis. Lapisan klorofil ditumbuhkan dengan metode spin coating pada substrat glass ITO. Hasil pengamatan morfologidengan AFM menjelaskan bahwa lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N = 3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun lapisan klorofil membentukdistribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5.