<![CDATA[Kebutuhan akan pasir silika berkualitas tinggi untuk berbagai aplikasi industri, terutama sebagai bahan baku semikonduktor membutuhkan eksplorasi komoditi ini perlu ditingkatkan. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui geometri dan persebaran batupasir kuarsa serta kualitas pasir kuarsa di lokasi penelitian sebagai bahan baku semikonduktor. Metode yang digunakan adalah analisis geokimia X-ray fluorescence (XRF) untuk mengukur komposisi masing-masing sampel. Karakter pasir kuarsa berupa endapan dengan ukuran butir membundar tanggung, sortasi baik. Hasil analisis menunjukkan bahwa Sampel 1 dan Sampel 3 memiliki kandungan SiO2 yang tinggi (di atas 99%), namun masih mengandung pengotor di atas batas yang ditetapkan untuk bahan semikonduktor. Sampel 2 memiliki kandungan SiO2 terendah (92,17%) dan pengotor tertinggi. Analisis korelasi Pearson menunjukkan hubungan negatif yang kuat antara SiO₂ dengan pengotor, terutama Al2O3 dan TiO2. Disimpulkan bahwa ketiga sampel pasir silika tidak memenuhi standar kemurnian untuk bahan baku semikonduktor tanpa proses pemurnian lebih lanjut.]]>
Copyrights © 2025
