Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2020 - 2025
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal Risalah Fisika
Ariasoca, Thomas Aquino
Physical Society of Indonesia (PSI)
Physics Other

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

 1 
Pemodelan Konstanta Dielektrik Graphene Pada Substrat SiC Hasil Spectroscopy Ellipsometry Dengan Menggunakan Metode Matriks Transfer Ariasoca, Thomas Aquino; Santoso, Iman
Risalah Fisika Vol 1, No 1 (2017): Risalah Fisika ISSN 2548-9011
Publisher : Physical Society of Indonesia (PSI)

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (366.925 KB) | DOI: 10.35895/rf.v1i1.19

Abstract

Telah dilakukan pemodelan konstanta dielektrik graphene pada substrat SiC hasil spectroscopy ellipsometry dengan menggunakan metode matriks transfer untuk melakukan perhitungan persamaan Fresnel dalam pemodelan optik. Matriks transfer didefinisikan dalam perkalian matriks interface I dan matriks layer L yang menunjukkan pengaruh dari lapisan permukaan dan badan dari suatu medium terhadap keseluruhan sistem. Pengaruh kekasaran lapisan didefinisikan menggunakan pendekatan medium efektif. Pemodelan konstanta dielektrik kemudian dilakukan dengan menggunakan inversi Newton-Raphson dari persamaan ellipsometry. Hasil dari penelitian menunjukkan perhitungan dengan menggunakan metode matriks transfer dapat menghasilkan nilai yang sama dengan perhitungan persamaan Fresnel biasa.
Co-Authors Aminuyati