Bambang Avianthara
PT. Elnusa, Tbk.

Published : 3 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search
Journal : PRISMA FISIKA

ANALISIS PERBANDINGAN MIGRASI METODE KIRCHHOFF DAN MIGRASI FX PADA DATA SEISMIK 2D DARAT Susanti, Widya; Ivansyah, Okto; Muliadi, Muliadi; Avianthara, Bambang
PRISMA FISIKA Vol 8, No 1 (2020)
Publisher : Jurusan Fisika, Universitas Tanjungpura

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (1088.725 KB) | DOI: 10.26418/pf.v8i1.39927

Abstract

Telah dilakukan penelitian mengenai pengolahan data seismik 2D land menggunakan metode seismik dengan proses post stack migration dalam domain waktu dengan teknik migrasi kirchhoff dan migrasi fx untuk mengetahui hasil pencitraan bawah permukaan. Ketepatan dalam menggunakan teknik migrasi sangat diperlukan agar dapat mengakomodasi dan menghasilkan pencitraan dengan resolusi yang lebih baik dari sebuah data komplek. Tahap pengolahan data dilakukan sesuai dengan flow processing metode seismik. Dalam penelitian ini dilakukan variasi parameter nilai dip dan aperture. Untuk variasi parameter aperture yaitu 1000 ms, 2000 ms, 4000 ms, dan 6000 ms. Sedangkan variasi nilai dip yang dilakukan yaitu 150, 300, 450, 650, dan 900. Tahapan migrasi dilakukan dengan dua tahap yaitu migrasi kirchhoff dan migrasi fx. Hasil stack pada proses migrasi dengan teknik migrasi Kirchhoff menghasilkan pencitraan bawah permukaan terhadap kemungkinan suatu reflektor lebih kontinyu, akan tetapi tidak terlalu terfokus, sedangkan pada proses migrasi fx menghasilkan pencitraan reflektor yang lebih terfokus, lebih tegas dan lebih baik digunakan pada lapisan curam.