Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2021 - 2026
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal Jurnal Sains Materi Indonesia
Hadi Nur
Institut Ibnu Sina-Universiti Teknologi Malaysia Malaysia
Materials Science & Nanotechnology

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

 1 
APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT Eriawan Rismana; Hadi Nur; Salasiah Endud
Jurnal Sains Materi Indonesia Vol 13, No 2: FEBRUARI 2012
Publisher : Center for Science & Technology of Advanced Materials - National Nuclear Energy Agency

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (740.853 KB) | DOI: 10.17146/jsmi.2012.13.2.4713

Abstract

APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Karakterisasi nanopartikel Kadmium Sulfida (CdS) pada nanokomposit CdS/Polimer dan stabilitas pola difraktogramstruktur mesopori dariAl-MCM-41 pada nanokomposit CdS/APTMS-Al-MCM-41 telah dilakukan denganmenggunakan teknik difraksi sinar-X. Polimer yang digunakan adalah poli(steren-divinilbenzen) tersulfonasi [SO3H-P(S-DVB)]. Keberadaan nano partikel CdS dalam CdS/SO3H-P(S-DVB) ditunjukkan oleh adanya puncak lebar pada difraktogram di posisi 2θ = 26,40° ; 43,75° dan 52,00° yang sesuai dengan pola difraktogram CdS nano bentuk kubik (111), (220) dan (311). Sedangkan stabilitas pola difraktogramdari CdS/APTMS-Al-MCM-41 ditunjukkan oleh adanya puncak tajam pada difraktogram di posisi 2θ = 2,1° (100) dan 3 puncak lemah di 2θ = 3,7° (110), 4,3° (200) dan 5,5° (210) yang menunjukkan pola difraktogram Al-MCM-41 sebagai matriks host dari CdS/APTMS-Al-MCM-41.
Co-Authors Eriawan Rismana Salasiah Endud