Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2021 - 2026
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal Teknika: Jurnal Sains dan Teknologi
Aenudin Aenudin
Jurusan Teknik Elektro Universitas Sultan Ageng Tirtayasa
Chemical Engineering, Chemistry & Bioengineering Civil Engineering, Building, Construction & Architecture Electrical & Electronics Engineering Engineering Industrial & Manufacturing Engineering

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

 1 
SISTEM PAKAR DIAGNOSIS NO MOBILE PHONE PHOBIA Ri Munarto; Aenudin Aenudin
Jurnal Teknika Vol 13, No 2 (2017): Edisi November 2017
Publisher : Faculty of Engineering, Universitas Sultan Ageng Tirtayasa

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | DOI: 10.36055/tjst.v13i2.7596

Abstract

Penggunaan phonsel selain banyak membantu dalam memudahkan aktifitas manusia, tapi juga berdampak negatif apabila digunakan  secara berlebihan dan tidak terkendali akan berdampak menjadi gangguan mental. Gangguan  mental  tersebut seperti kecanduan game online, menurunnya produktifitas karena asyik bermain media sosial dan masalah pornografi. Salah satu dampak negatif penggunaan gedget yang berlebihan adalah munculnya sindrom nomophobia. Nomophobia disingkat  No Mobile Phone Phobia adalah jenis phobia yang ditandai dengan ketakutan dan kecemasan berlebihan jika seseorang kehilangan ponsel atau ketika ponselnya tidak ada padanya. Nomophobia adalah jenis phobia terbesar abad 21 sebagai hasil sampingan terhadap hasil interaksi manusia dengan produk teknologi. Pasien harus malakukan konsultasi pada psikolog, tetapi  kenyataannya psikolog memiliki keterbatasan tidak dapat mengingat data dan informasi yang banyak. Sistem pakar yang dibangun ini   untuk membantu memudahkan psikolog melakukan diagnosis akan nomophobia yang diderita pasien.  Expert system Development Life cycle(ESDLC) yang dibangun menggunakan metode penelusuran forward chaining dan dengan penentuan ketidak pastian certainty factor
Co-Authors Ri Munarto