Syaiful Rahman
Pendidikan Fisika Universitas Ahmad Dahlan

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

Rancangan Eksperimen Analisis Struktur Mikro Sampel dengan Prinsip XRD Menggunakan Metode Kristal Berputar Syaiful Rahman
Jurnal Riset dan Kajian Pendidikan Fisika Vol 3, No 1 (2016): Vol 3: April 2016
Publisher : Universitas Ahmad Dahlan

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (336.445 KB) | DOI: 10.12928/jrkpf.v3i1.4538

Abstract

Pada penelitian ini dibuat rancangan alat peraga yang secara prinsip memiliki kinerja seperti XRD yang dapat digunakan untuk menentukan jenis struktur kristal dari suatu bahan dengan perhitungan indeks bidang melalui puncak-puncak spektrum yang dihasilkan. Laser difungsikan sebagai sinar-x, sedangkan bahan sampel digunakan manik-manik dari plastik yang berbentuk bulat. Untuk memutar sampel digunakan motor stepper. Selanjutnya untuk menangkap cahaya difraksi digunakan sensor cahaya (light sensor) yang dihubungkan ke komputer. Data yang diperoleh berupa intensitas pada berbagai waktu dan diolah menggunakan microsoft excel untuk memperoleh posisi puncak dari difraksi serta indeks bidang. Hasil penelitian menunjukan bahwa rancangan alat eksperimen ini telah dapat bekerja dengan baik. Terbukti dapat menunjukkan intensitas puncak difraksi serta indeks bidangnya. Penelitian ini dapat digunakan sebagai pembelajaran fisika di perguruan tinggi, dengan produk berupa panduan praktikum fisika. In this research, a tool performs like XRD which can be used to determine crystal structure of a material with calculation of field index through conducted spectrum have been designed. Laser functioned as the x-ray, meanwhile plastic beads used as sample material. To rotate the sample a motor stepper is used. Light sensor which connected to a computer used to measure the diffraction of ray. Time based intensity data measured and analyzed using Microsoft Excel to show the peak position of the diffraction and field index also. This design works well according to the result gained. This tool has proven to show the peak position of ray diffraction and field index also. The result of this research can be used as a learning tool in college, with a product of experiment guide. Kata kunci: Difraksi sinar-X, struktur kristal, indeks bidang, Logger Pro.