Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2021 - 2026
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal Prosiding Semnastek
Dwidharma Priyasta
Pusat Teknologi Elektronika, Badan Pengkajian dan Penerapan Teknologi
Computer Science & IT

Published : 2 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 2 Documents
Search

 1 
PENGEMBANGAN ALAT UJI KESESUAIAN PERILAKU KARTU CERDAS TERHADAP KTP ELEKTRONIK Dwidharma Priyasta; Wahyu Cesar
Prosiding Semnastek PROSIDING SEMNASTEK 2018
Publisher : Universitas Muhammadiyah Jakarta

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar

Abstract

Saat ini alat uji yang digunakan untuk mengukur kesesuaian kinerja sebuah kartu cerdas (smart card) terhadap Peraturan Menteri Dalam Negeri Republik Indonesia tentang KTP Elektronik mengacu pada standar ISO/IEC 10373-6. Akan tetapi alat uji ini tidak dapat digunakan untuk memastikan bahwa sebuah kartu cerdas mampu menjadi tempat bagi aplikasi KTP Elektronik. Kepastian ini sangat dibutuhkan oleh para produsen kartu cerdas yang ingin berkontribusi dalam program nasional KTP Elektronik. Makalah ini melaporkan hasil pengembangan sebuah alat uji yang dapat digunakan untuk memeriksa kesesuaian perilaku sebuah kartu cerdas sebagai tempat bagi aplikasi KTP Elektronik. Alat uji ini berupa sebuah pembaca kartu cerdas (smart card reader) dan sebuah program aplikasi komputer. Alat uji ini menerapkan skenario-skenario pengujian dari sebuah metode uji tentang KTP Elektronik yang telah dikembangkan di Pusat Teknologi Elektronika – Badan Pengkajian dan Penerapan Teknologi (BPPT). Sebuah kartu cerdas yang dapat melewati seluruh butir pengujian yang ada pada alat uji secara berurutan dan lengkap dapat dianggap mampu menjadi tempat bagi aplikasi KTP Elektronik.
PENGEMBANGAN METODE UJI KESESUAIAN PERILAKU KARTU CERDAS TERHADAP KTP ELEKTRONIK Dwidharma Priyasta
Prosiding Semnastek PROSIDING SEMNASTEK 2018
Publisher : Universitas Muhammadiyah Jakarta

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar

Abstract

Makalah ini melaporkan hasil pengembangan sebuah metode uji untuk mengukur kesesuaian perilaku sebuah kartu cerdas (smart card) terhadap KTP Elektronik. Tujuannya adalah untuk memastikan kemampuan dari kartu cerdas tersebut sebagai tempat bagi aplikasi KTP Elektronik. Metode uji ini memuat skenario-skenario pengujian yang menerapkan standar-standar ISO/IEC 7816-4, ICAO Doc 9303 dan ISO/IEC 9797-1. Metode uji ini telah diterapkan pada sebuah sistem sederhana yang terdiri dari sebuah pembaca kartu cerdas (smart card reader) dan program aplikasi komputer yang kemudian dicobakan ke blangko KTP Elektronik dan ke produk-produk kartu cerdas lainnya. Hasil uji coba memperlihatkan bahwa metode uji ini 100% akurat dan andal.
Co-Authors Wahyu Cesar