Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2021 - 2026
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal Jurnal Instrumentasi
Asep Ridwan Nugraha
Research Center for Metrology - LIPI
Agriculture, Biological Sciences & Forestry Chemistry Electrical & Electronics Engineering Engineering Materials Science & Nanotechnology

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

 1 
MENYOAL URGENSI UJI PROFISIENSI NANOMETROLOGI DIMENSI DI INDONESIA Nur Tjahyo Eka Darmayanti; Asep Ridwan Nugraha; Diina Qiyaman; Ardi Rahman
Instrumentasi Vol 42, No 1 (2018)
Publisher : LIPI Press, Anggota IKAPI

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | DOI: 10.14203/instrumentasi.v42i1.104

Abstract

Nanoteknologi dan nanometrologi adalah dua bidang keilmuan yang tidak bisa dipisahkan. Perkembangan pesat pada penelitian yang menghasilkan produk nanoteknologi tentunya membutuhkan nanometrologi untuk menjamin kontrol kualitasnya. Tren pengembangan nanoteknologi saat ini terus naik baik di dunia maupun di Indonesia. Indonesia sebagai negara dengan potensi pasar yang besar, memiliki bahan baku untuk memproduksi material nano. Hal ini menjadikan Indonesia memiliki posisi yang diperhitungkan di dunia. Puslit Metrologi LIPI sebagai lembaga metrologi nasional memiliki peran untuk mengembangkan ketertelusuran nanometrologi di Indonesia. Di dalam makalah ini dibahas mengenai pentingnya uji profisiensi pada bidang nanometrologi. Uji profisiensi dilakukan mengacu pada uji banding yang dilakukan negara - negara yang tergabung dalam BIPM, terdiri dari berbagai jenis artefak, yaitu: line width standards, step height standards, line scales, 1D gratings, 2D grating dan nano particle. Di Indonesia, kelompok penelitian nanometrologi dari Puslit Metrologi LIPI menyelenggarakan uji banding untuk menguji validitas alat ukur nano yang digunakan di institusi penelitian. Berdasarkan hasil penelitian sebelumnya, uji banding dilakukan pada alat ukur SEM yang paling banyak digunakan, dan penjaminan ketertelusuran nanometrologi dilakukan dalam bidang dimensi. Uji banding dirancang mengacu pada pengujian yang dilakukan Working Group CCL Nano4.
Co-Authors Ardi Rahman Diina Qiyaman Nur Tjahyo Eka Darmayanti