Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2021 - 2026
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal PROSIDING SEMINAR NASIONAL FISIKA (E-JOURNAL)
Ambran Hartono
Program Studi Fisika, FST UIN Syarif Hidayatullah Jakarta, Jl.Ir. Juanda 95 Ciputat, Indonesia
Electrical & Electronics Engineering Energy Physics Other

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

 1 
Analisis Pengaruh Variasi Temperatur Annealing Terhadap Ukuran Kristal Film PVDF Dedi Setiawan; Ambran Hartono
PROSIDING SEMINAR NASIONAL FISIKA (E-JOURNAL) Vol 4 (2015): PROSIDING SEMINAR NASIONAL FISIKA (E-JOURNAL) SNF2015
Publisher : Program Studi Pendidikan Fisika dan Program Studi Fisika Universitas Negeri Jakarta, LPPM Universitas Negeri Jakarta, HFI Jakarta, HFI

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (371.2 KB)

Abstract

Telah dilakukan fabrikasi film PVDF dengan menggunakan mesin roll hot press. Pembuatan sampel dilakukan dengan memanaskan dan penggilingan serbuk PVDF. Proses annealing dilakukan pada temperatur 130 0C s/d 150 0C. Kondisi ini dilakukan untuk melihat pengaruh temperatur annealing terhadap ukuran kristalit dari film PVDF. Untuk mendapatkan pola difraksi dari sampel maka dilakukan karakterisasi menggunakan X-Ray Diffraction. Selanjutnya dari pola difraksi yang diperoleh, dilakukan perhitungan untuk menentukan ukuran kristalit dari sampel dengan menggunakan persamaan Scherrer. Dari hasil eksperimen dan perhitungan diperoleh ukuran kristalit untuk sampel dengan temperature annealing 130 0C, 135 0C, 140 0C, 145 0C, dan 150 0C secara serempak yaitu 7,2 nm, 7,9 nm, 8,7nm, 10,93 dan 14 nm. Hasil ini memperlihatkan bahwa semakin bertambahnya temperatur akan semakin bertambah pula ukuran kristalitnya. Hal ini terjadi karena dengan semakin bertambahnya temperatur menyebabkan semakin tinggi derajat kristalisasi sampel film PVDF yang terbentuk, sehingga ukuran kristalit juga bertambah. Keywords: PVDF, Roll hot press, Scherrer equation, Annealing Temperature, Cristal Size, X-Ray Diffraction.
Co-Authors Dedi Setiawan