PENGUJIAN CONTACTLESS SMART CARD READER UNTUK MENGKAJI TINGKAT KESESUAIAN TERHADAP PARAMETER DIGITAL STANDAR SERIAL SNI ISO/IEC 14443

Dwidharma Priyasta (Badan Pengkajian dan Penerapan Teknologi (BPPT))
Eka Setianingsih (Badan Pengkajian dan Penerapan Teknologi (BPPT))

Prosiding Semnastek
PROSIDING SEMNASTEK 2016

Makalah ini melaporkan sebuah hasil kegiatan pengujian parameter digital standar serial SNI ISO/IEC      14443   terhadap    beberapa    produk   contactless    smart   card   reader  dengan     menggunakan metode uji SNI  ISO/IEC 10373-6 yang dilakukan di Laboratorium Bidang Teknologi Kartu Cerdas, Pusat   Teknologi   Elektronika   (PTE),   Badan   Pengkajian   dan   Penerapan   Teknologi   (BPPT).   Alat  uji yang digunakan terdiri dari satu set contactless test station yang dilengkapi dengan sebuah Reference PICC Class 1 untuk berkomunikasi dengan benda uji. Diperoleh persentase keberhasilan kurang dari  50% untuk total 100 skenario pengujian parameter digital yang diberikan. Kata Kunci: contactless smart card reader, SNI ISO/IEC 14443, SNI ISO/IEC  10373-6, contactless test station