Journal of Applied Electrical Engineering
Vol 4 No 2 (2020): JAEE, December 2020

Desain Sistem Functional Test RFID Chips Array untuk Proses Manufaktur Smart Card pada TFME Politeknik Negeri Batam

Nanta Fakih Prebianto (Unknown)
Nur Sakinah Asaad (Unknown)
Riki Ria (Unknown)



Article Info

Publish Date
31 Dec 2020

Abstract

Proses pengembangan dan produksi smart card dilakukan pada Teaching Factory Manufacturing of Electronics (TFME) Politeknik Negeri Batam. Pada proses produksi smart card perlu dikembangkan sistem pengujian sample untuk memastikan hasil wiring dan proses die attach berhasil yang ditandai dengan komunikasi antara chip dan RFID reader (13,56 MHz). Pendekatan yang dilakukan adalah merancang sistem uji fungsi RFID otomatis dengan memanfaatkan pergerakan tiga axis dan mini probe yang melekat pada pad sambungan wire bond dan die. Metode yang digunakan pada penelitian ini terdiri dari perancangan mekanik, perancangan elektrik, perancangan perangkat lunak, dan pengujian sistem. Resistansi probe RFID memiliki resistansi 1,8 Ohm. Pergerakan setiap axis menggunakan motor stepper yang dikopling dengan ulir linear T8 2pitch 4star. Torsi yang terukur pada axis x, y, dan z adalah 4.64 N.mm, 59,54 N.mm, dan 10,72 N.mm pada saat stepper bergerak maju.

Copyrights © 2020






Journal Info

Abbrev

JAEE

Publisher

Subject

Control & Systems Engineering Electrical & Electronics Engineering

Description

JAEE (Journal of Applied Electrical Engineering) e-ISSN: 2548-9682 is a peer-reviewed scientific journal published by the Department of Electrical Engineering, Politeknik Negeri Batam, Indonesia. It is a free-of-charge open access journal published in two issues per year (June, December). The ...