JURNAL FISIKA
Vol 10, No 2 (2020)

Penentuan dan Analisis Resistivitas Thin Film dengan Identifikasi Sampel Menggunakan Metode Image Processing

Isnaini, Vandri Ahmad (Unknown)
Wirman, Rahmi Putri (Unknown)
Wirman, Shabri Putra (Unknown)
Salma, Hayyu (Unknown)



Article Info

Publish Date
23 Nov 2020

Abstract

Telah dilakukan penelitian tentang penentuan dan analisis nilai resistivitas thin film dengan identifikasi ukuran sampel menggunakan metode image processing. Penelitian ini berupa perancangan, pengembangan, percobaan, dan analisis data percobaan. Analisis data percobaan dilakukan untuk melihat tingkat akurasi pada alat ini. Sampel yang diukur adalah thin film berbahan dasar Nikel Kobalt. Dari hasil percobaan, didapatkan bahwa alat ini bekerja dengan baik, walaupun digunakan untuk pengukuran sampel ukuran kecil. Alat juga memberikan data resistivitas yang akurat, dengan deviasi data yang kecil dibandingkan dengan data pengukuran secara manual. Pola yang dihasilkan dari hasil pengukuran alat ini dapat memberikan kesimpulan tentang pengaruh resistivitas terhadap variasi komposisi bahan dasar thin film.

Copyrights © 2020






Journal Info

Abbrev

jf

Publisher

Subject

Physics

Description

Terbit dua kali setahun pada bulan Mei dan November. Berisi tulisan yang diangkat dari hasil penelitian dan kajian konseptual Fisika Teoritik, Fisika Material, Fisika Medik, Fisika Nuklir, Fisika Komputasi dan Fisika ...