Jurnal Instrumentasi
Vol 40, No 2 (2016)

SISTEM PENGUKURAN UNTUK MENENTUKAN PENYIMPANGAN SUDUT LEVEL ELEKTRONIK DENGAN MENGGUNAKAN METODE INKLINASI

Okasatria Novyanto (Pusat Penelitian Metrologi-LIPI)
Asep Ridwan Nugraha (Pusat Penelitian Metrologi-LIPI)
Nurul Alfiyati (Pusat Penelitian Metrologi-LIPI)



Article Info

Publish Date
01 Dec 2016

Abstract

Telah dibuat suatu sistem pengukuran untuk menentukan penyimpangan sudut pada level elektronik dengan menggunakan metode inklinasi. Metode ini menggunakan prinsip trigonometri dengan nilai sumbu x dan y yang diperoleh dari panjang meja inklinasi dan pergerakan length gauge. Level elektronik diletakkan di atas meja inklinasi yang searah sumbu x, kemudian diberikan kemiringan tertentu sehingga terjadi perubahan jarak pada sumbu y. Besarnya perubahan jarak tersebut diukur oleh length gauge. Perpaduan nilai kedua sumbu ini digunakan untuk mendapatkan besarnya nilai sudut terukur. Hasil tersebut diperbandingkan dengan hasil pengukuran menggunakan standar sudut swakalibrasi (SelfA47) yang sudah tervalidasi sebagai nilai acuan. Hasil perhitungan menunjukkan bahwa seluruh titik sampel pengukuran memenuhi kriteria dengan nilai En terbesar berada pada titik -1.400 μm/m, yakni 0,62, sedangkan nilai En terkecil berada pada titik 700 μm/m, yakni 0,02. Dengan demikian, secara eksperimental, metode ini dapat diaplikasikan untuk menentukan penyimpangan sudut level elektronik yang memiliki rentang pengukuran hingga ±2.000 μm/m. Meskipun demikian, hanya 70% saja dari rentang ukur keseluruhan yang disarankan sebagai rentang ukur efektif.

Copyrights © 2016






Journal Info

Abbrev

ji

Publisher

Subject

Agriculture, Biological Sciences & Forestry Chemistry Electrical & Electronics Engineering Engineering Materials Science & Nanotechnology

Description

The scientific areas covered by Instrumentasi are those backboned by scientific measurements and thus range from instrument engineering, metrology, testing, and control. All papers submitted are refereed by bona fide reviewers from leading research institutions as well as universities prior to ...