<![CDATA[Jenis – jenis kerusakan pada photovoltaic (PV) cells akan menyebabkan penurunan kualitas salah satunya adalah crack pada PV cell. Jenis crack PV cell yang terjadi sangatlah susah untuk dideteksi, kerusakan terjadi didalamnya bahan semikonduktor pada bahan silicon yang terdapat di PV cell dengan tidak bias dilihat pada mata telanjang. Pada penelitian ini bertujuan untuk mendeteksi kerusakan atau cacat dengan menggunakan metode gambar electroluminescence dari PV cells dengan cara catu daya forward bias tengan sesuai dengan spesifikasi pada PV cells dan di capture dengan kamera DSLR dengan modifikasi dengan cara melepas lensa infra red cutfilter pada bagian lensa kamera. Jenis kerusakam pada PV cell terdapat crack pada gambar yang ditangakap kamera dan setelah itu akan dianalisa menggunakan pengolahan citra dengan mengaplikasikan software YOLO v3. Hasil pendeteksian pada gambar dianalisa dan diolah citranya dengan tingkat keakurasian pada sistem adalah 97,30% untuk jenis PV cell normal, 92,22% jenis micro crack, 70,77% jenis several direction crack, dan 93,66% jenis cross crack. Hasil diperoleh aka nada perbandingan output pada photovoltaic cell mendapatkan hasil penurunan tegangan open circuit (Voc) sebesar 9% sampai 18,4%, dan Arus short circuit (Isc) sebesar 23,45% sampai 29,8%.]]>
Copyrights © 2023
