Journal of Scientech Research and Development
Vol 6 No 1 (2024): JSRD, June 2024

EVALUASI TINGKAT PERSAINGAN SISWA DALAM SELEKSI NASIONAL MASUK PERGURUAN TINGGI NEGERI MENGGUNAKAN ALGORITMA NAIVE BAYES

Supangat (Unknown)
Rafif Giovanni (Unknown)



Article Info

Publish Date
12 Jul 2024

Abstract

Penelitian ini bertujuan untuk mengembangkan sebuah metode prediksi tingkat persaingan siswa dalam seleksi nasional masuk perguruan tinggi negeri menggunakan teknik data mining di SMAN 6 Surabaya. Seleksi nasional masuk perguruan tinggi negeri merupakan proses yang sangat kompetitif dan penting bagi siswa untuk memperoleh kesempatan masuk ke perguruan tinggi yang diinginkan. Dalam penelitian ini, kami menggunakan teknik data mining untuk menganalisis data tentang siswa yang akan mengikuti seleksi nasional di SMAN 6 Surabaya. Data yang digunakan meliputi hasil ujian, nilai rapor, dan faktor-faktor lain yang dapat mempengaruhi tingkat persaingan siswa. Tujuan utama dari analisis data ini adalah untuk mengidentifikasi pola atau tren yang dapat digunakan untuk memprediksi tingkat persaingan siswa di masa depan. Hasil penelitian ini diharapkan dapat membantu siswa, guru, dan pihak terkait dalam memahami dan mengantisipasi tingkat persaingan dalam seleksi nasional masuk perguruan tinggi negeri. Dari penelitian ini didapatkan hasil pengujian dengan Data Mining menggunakan algoritma Naïve Bayes memperoleh hasil siswa yang mendapatkan SNMPTN sebesar 55,5% dan yang tidak mendapatkan sebesar 44,5% dari akurasi sebesar 87%, Presisi 89%, Recall 86,71% dan F1-Score 87,84%.

Copyrights © 2024






Journal Info

Abbrev

JSCR

Publisher

Subject

Humanities Computer Science & IT Education Industrial & Manufacturing Engineering Social Sciences

Description

Journal of Scientech Research and Development (JSRD) is a peer-reviewed journal that focuses on critical studies of social research and development. Investigated the dynamics of teaching and learning of Scientech education, scientech research, and development problems in the scientech at the ...