Analisis Kandungan Logam Dan Ftalat pada Komponen Eletronik menggunakan XRF dan Py/GC-MS

Lestari, Ayu Zakiyah
Maulida, Nabilah

Jurnal Riset Sains dan Kimia Terapan
Vol. 10 No. 1 (2024): Jurnal Riset Sains dan Kimia Terapan, Volume 10 Nomor 1, Juni 2024

Abstrak Perkembangan elektronik pada bidang industri mempengaruhi kehidupan sehari hari. Penggunaannnya yang berlebihan dapat meningkatkan resiko berbahaya pada penggunanya. Salah satu faktor bahaya pada komponen elektronik yang digunakan adalah terdapatnya logam dan flatat. RoHS merupakan regulasi Uni Eropa yang mengatur pembatasan penggunaan zat-zat berbahaya seperti Pb, Hg, Cd, dan Cr6+, serta PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, dan DEHP dalam produk-produk elektronik dan listrik. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui kandungan zat-zat berbahaya yang diatur oleh RoHS pada sampel komponen elektronik. Metode yang digunakan adalah skrining awal menggunakan XRF dan penetapan kadar ftalat dengan Py/GC-MS. Hasil penelitian menunjukkan bahwa sampel tidak mengandung logam berat (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, dan turunan Br. Kandungan Pb, DBP, dan DEHP yang terdeteksi memiliki konsentrasi rendah dan tidak melebihi batas maksimum penggunaan ftalat yang ditetapkan oleh RoHS, sehingga part elektronik tersebut dapat digunakan dalam produksi. Kata kunci: elektronik, ftalat, logam, Py-GC-MS, RoHS, XRF Abstract The development of electronics in the industrial sector affects daily life. Its excessive use can increase the risk of harm to its users. One of the hazardous factors in the electronic components used is the presence of metals and flattates. RoHS is a European Union regulation that regulates restrictions on the use of hazardous substances such as Pb, Hg, Cd, and Cr6+, as well as PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, and DEHP in electronic and electrical products. This study aims to determine the content of RoHS-regulated hazardous substances in electronic component samples. The methods used were preliminary screening using XRF and determination of phthalate levels by Py/GC-MS. The results showed that the samples did not contain heavy metals (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, and Br derivatives. The detected Pb, DBP, and DEHP contents had low concentrations and did not exceed the maximum limit of phthalate use set by RoHS, so the electronic parts could be used in production. Keywords:electronics, metals, phthalates, Py-GC-MS, RoHS, XRF