<![CDATA[Penelitian ini bertujuan untuk mengkaji pengaruh ukuran partikel dan metode pengeringan terhadap akurasi analisis kadar nikel menggunakan spektrometer X-Ray Fluorescence (XRF). Penelitian dilakukan di PT. Tiran Indonesia dengan dua variabel bebas, yaitu ukuran partikel 100 mesh dan 200 mesh serta metode pengeringan oven dan sangrai. Pengujian dilakukan pada sampel bijih nikel menggunakan instrumen XRF. Hasil penelitian menunjukkan bahwa semakin kecil ukuran partikel, khususnya pada ukuran 200 mesh, semakin tinggi tingkat akurasi analisis yang dicapai. Metode pengeringan oven memberikan hasil yang lebih akurat dibandingkan metode sangrai, terutama pada ukuran partikel 200 mesh. Akurasi pada metode oven mencapai rata-rata deviasi yang lebih rendah dibandingkan metode sangrai, terutama pada unsur SiO2 dan Fe. Penelitian ini menyimpulkan bahwa ukuran partikel dan metode pengeringan berpengaruh signifikan terhadap akurasi analisis XRF.]]>
Copyrights © 2025
