Telah dilakukan penelitian tentang preparasi dan karakterisasi permukaan elektrodaberlapis nanopartikel titanium dioksida (TiO2) dengan menggunakan Atomic ForceMicroscopy (AFM). Lapis tipis nanopartikel TiO2 telah dipreparasi dengan menerapkanmetode Sol-Gel Dip-Coating menggunakan titanium tetraisopropoksida (TTIP). Hasilkarakterisasi AFM menunjukkan roughness 1,596nm dan ukuran partikel 9,8 nm. Hasil yangdiperoleh cocok secara praktis untuk penggunaan sebagai elektroda dalam sistemfotoelektrokatalitik.
Copyrights © 2011