Mohammad Irfan Arganata
Institut Teknologi Sepuluh Nopember

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

Pergeseran 2θ pada Pola Difraksi Sinar-X Mg1-xNixF1,985(OH)0,015 Akibat Variasi x Mohammad Irfan Arganata; Irmina Kris Murwani
Jurnal Sains dan Seni ITS Vol 6, No 2 (2017)
Publisher : Lembaga Penelitian dan Pengabdian Kepada Masyarakat (LPPM), ITS

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (187.335 KB) | DOI: 10.12962/j23373520.v6i2.27649

Abstract

Pada penelitian ini telah dilakukan sintesis Mg1‑xNixF1,985(OH)0,015 (x= 0; 0,025; 0,050; 0,075; 0,100; 0,150) dengan metode sol-gel. Struktur kristal padatan dikarakterisasi dengan Difraksi Sinar-X (XRD). Hasil XRD menunjukkan bahwa semua padatan Mg1‑xNixF1,985(OH)0,015 memiliki struktur tetragonal. Pada pola difraksi hasil karakterisasi Mg1-xNixF1,985(OH)0,015 menunjukkan tidak ditemukan puncak-puncak khas NiO. Modifikasi doping pada MgF1,985(OH)0,015 menunjukkan adanya pergeseran 2θ. Pergeseran terjadi pada 2θ tiga puncak utama yaitu 27,050-27,400, 40,300-40,557 dan 53,500-53,850.