JSM (Jurnal SIFO Mikroskil)
Vol 13, No 2 (2012): Volume 13 Nomor 2 Tahun 2012

Evaluasi dan Perbaikan Kualitas Desain Diagram Kelas

Arwin Halim (STMIK Mikroskil)



Article Info

Publish Date
20 Oct 2012

Abstract

Dalam proses pengembangan dan pemeliharaan proyek perangkat lunak, kualitas merupakan salah satu hal penting yang menjadi penentu keberhasilan perangkat lunak.Kesalahan yang tidak ditemukan pada awal pengembangan akan membutuhkan sumber daya, biaya, dan waktu perbaikan yang lebih tinggi. Salah satu tahapan yang dilakukan saat proses pengembangan perangkat lunak adalah pemodelan data. Pada perangkat lunak yang berorientasi objek, data biasanya dimodelkan dalam bentuk diagram kelas. Kualitas pada diagram kelas sangat tergantung pada pengetahuan dari perancang. Oleh karena itu, berbagai metrik telah dikembangkan untuk menilai kualitas desain dari berbagai aspek. Pada paper ini, Penulis mengusulkan sebuah pendekatan dan model untuk mengevaluasi, mendeteksi, dan memperbaiki desain kelas diagram, sehingga sesuai dengan kriteria kualitas yang diharapkan.

Copyrights © 2012






Journal Info

Abbrev

jsm

Publisher

Subject

Computer Science & IT Decision Sciences, Operations Research & Management

Description

Jurnal SIFO Mikroskil (JSM) is a journal that published by Lembaga Penelitian & Pengabdian kepada Masyarakat (LPPM) Universitas Mikroskil Medan, Indonesia. JSM published a journal twice a year, in April and October. The mission of JSM to share, develop and facilitate the output of research paper ...