<![CDATA[Grafik karakteristik transistor menunjukkan hubungan antara arus basis kolektor dan tegangan emitter kolektor. Informasi tersebut dimanfaatkan untuk menentukan penguatan transistor, titik saturasi, dan titik cutoff. Pengukuran manual di laboratorium untuk mendapatkan grafik karakteristik transistor membutuhkan waktu yang lama karena analis diharuskan mengendalikan banyak instrumen pada saat yang sama. Akibatnya, alat khusus diperlukan untuk secara otomatis mengukur grafik dengan pengaturan tes yang dapat diubah dan memvisualisasikan hasil tes. Dalam studi ini, mereka membahas bagaimana membangun pelacak kurva menggunakan Source Measure Unit (SMU) dan mikrokontroler arsitektur ARM untuk mengontrol output dan menangkap data dengan cepat. Interface pelacak kurva dikembangkan pada komputer menggunakan aplikasi LabVIEW untuk menentukan pengaturan tes dan menyajikan visualisasi grafis dari hasil tes. Ketepatan output tegangan dari SMU adalah 0.01% dan ketepatannya output saat ini adalah 0.35%. Akurasi karakteristik transistor pada pelacak kurva dibandingkan dengan osiloskop adalah 2.48%.]]>
Copyrights © 2023
