<![CDATA[Penelitian ini bertujuan menganalisis struktur kristal lapisan nanokomposit SiO₂ sekam padi/PDMS dengan variasi jumlah lapisan menggunakan metode X-ray Diffraction (XRD). Lapisan diaplikasikan pada substrat kaca melalui teknik spin coating dengan variasi 2, 4, 6, dan 8 lapis. Karakterisasi XRD dilakukan untuk mengidentifikasi fasa kristal dan menganalisis pola difraksi menggunakan perangkat lunak HighScore Plus. Ukuran kristalit dihitung dengan persamaan Scherrer berdasarkan pelebaran puncak difraksi. Hasil menunjukkan bahwa peningkatan jumlah lapisan memengaruhi ukuran kristalit dan intensitas puncak, yang mencerminkan perubahan pada sifat mikrostruktur material. Temuan ini memberikan informasi penting dalam pengembangan material komposit SiO₂/PDMS untuk aplikasi isolator listrik yang memerlukan kontrol terhadap struktur kristal.]]>
Copyrights © 2025
