Phalosa, Giovani Findal
Unknown Affiliation

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

KAJIAN TINGGI ORTHOMETRIK PENGUKURAN RTK NTRIPLEVELLING HASIL REDUKSI GEOID GLOBAL DAN SRGI Phalosa, Giovani Findal; Fadly, Romi; Fajriyanto, Fajriyanto
Datum: Journal of Geodesy and Geomatics Vol. 3 No. 1 (2023): Jurnal Datum Geodesi dan Geomatika
Publisher : Department of Geodesy and Geomatics, University of Lampung

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | DOI: 10.23960/datum.v3i1.3567

Abstract

Dewasa ini metode pengukuran RTK-NTRIP semakin sering digunakan dalam berbagai pengukuran, seperti pengukuran topografi, pengukuran situasi atau detail serta lain sebagainya. Metode RTK-NTRIP tersebut memberikan kemudahan dalam mendapatkan nilai koordinat secara langsung. Namun tinggi yang dihasilkan pengukuran RTK-NTRIP ini masih merujuk ke tinggi ellipsoid belum merujuk ke tinggi orthometrik. Oleh karena itu diperlukan proses reduksi dari tinggi ellipsoid ke tinggi orthometrik. Untuk dapat mereduksi tinggi elipsoid ke tinggiorthometrik dapat menggunakan nilai undulasi yang disediakan secara nasional maupun global. Metode yang digunakan adalah metode RTK NTRIP-Levelling. Dengan menggunakan data lintang bujur hasil pengukuran RTK-NTRIP maka dapat dihasilkan nilai undulasi dan tinggi orthometrik SRGI dan EGM 2008 Perhitungan sipat datar berupa nilai beda tinggi sebagai data pembanding yang dianggap benar untuk mendapat nilai ketelitian atau RMSE. Berdasarkan analisis akurasi data pengukuran didapat bahwa masing-masing selisih beda tinggi orthometrik SRGI dan EGM dikurang dengan beda tinggi levelling yang dianggap benar menghasilkan nilai ketelitian atau RMSE sebesar 0,085234883 pada ∆H SRGI-WP dan 0,079914692 pada ∆H EGM-WP. Sehingga untuk mendapat ketelitian vertikal dikalikan LE90 = 1,6499, maka didapatkan hasil 0,140629033 pada ∆H SRGI dan 0,13185125 pada ∆H EGM-WP yang mana keduanya masuk kedalam ketelitian geometri peta RBI pada kelas 1 dengan skala 1:1000, sehingga baik digunakan untuk pengukuran tinggi orthometrikKata kunci: EGM2008, Elipsoid, Orthometrik, RTK-NTRIP, SRGI