Penerapan Hazard Analysis Critical Control Point (HACCP) pada Proses Produksi Wafer untuk Menjamin Keamanan Pangan

Muhamad Ari Ismail (Universitas Djuanda)
Siti Nur Aliyah (Universitas Djuanda)
Lusy Octaviani (Universitas Djuanda)
Siti Nazwa Hidayah (Universitas Djuanda)
Widya Firdiani Chandraningtyas (Universitas Djuanda)
Dian Safitri (Universitas Djuanda)
Intan Kusumaningrum (Universitas Djuanda)

Karimah Tauhid
Vol. 5 No. 8 (2026): Karimah Tauhid (In Progress)

Hazard Analysis and Critical Control Point (HACCP) merupakan sistem keamanan pangan yang digunakan untuk mengidentifikasi dan mengendalikan potensi bahaya pada proses produksi pangan. Produk wafer memiliki risiko bahaya biologis, kimia, dan fisik, seperti pertumbuhan mikroba, ketengikan akibat oksidasi lemak, serta kontaminasi logam. Kajian ini bertujuan menyusun rencana HACCP pada proses produksi wafer krim untuk menjamin keamanan produk. Metode yang digunakan meliputi identifikasi bahaya, penetapan Critical Control Point (CCP), penentuan batas kritis, pemantauan, tindakan korektif, verifikasi, dan dokumentasi. Hasil analisis menunjukkan terdapat empat CCP, yaitu penerimaan minyak nabati, metal detector, cooling room, serta pengemasan dan penyimpanan. Pengendalian pada titik-titik tersebut mampu mencegah dan meminimalkan risiko bahaya yang dapat memengaruhi keamanan dan mutu produk. Penerapan HACCP secara konsisten diharapkan dapat menghasilkan produk wafer yang aman, bermutu, dan sesuai dengan persyaratan keamanan pangan.