Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search
Journal : JURNAL FISIKA

Penentuan dan Analisis Resistivitas Thin Film dengan Identifikasi Sampel Menggunakan Metode Image Processing Isnaini, Vandri Ahmad; Wirman, Rahmi Putri; Wirman, Shabri Putra; Salma, Hayyu
Jurnal Fisika Vol 10, No 2 (2020)
Publisher : Universitas Negeri Semarang

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | DOI: 10.15294/jf.v10i2.25709

Abstract

Telah dilakukan penelitian tentang penentuan dan analisis nilai resistivitas thin film dengan identifikasi ukuran sampel menggunakan metode image processing. Penelitian ini berupa perancangan, pengembangan, percobaan, dan analisis data percobaan. Analisis data percobaan dilakukan untuk melihat tingkat akurasi pada alat ini. Sampel yang diukur adalah thin film berbahan dasar Nikel Kobalt. Dari hasil percobaan, didapatkan bahwa alat ini bekerja dengan baik, walaupun digunakan untuk pengukuran sampel ukuran kecil. Alat juga memberikan data resistivitas yang akurat, dengan deviasi data yang kecil dibandingkan dengan data pengukuran secara manual. Pola yang dihasilkan dari hasil pengukuran alat ini dapat memberikan kesimpulan tentang pengaruh resistivitas terhadap variasi komposisi bahan dasar thin film.